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表面物性解析

概要

SEM、TEM、FIB、EPMA(XMA)、SPM、画像処理により形態観察を行います。

（株）三菱化学アナリテック
（株）三菱化学科学技術研究センター・分析部門
（株）大阪環境技術センター

（株）三菱化学アナリテック

表面分析・微小分析
ピンポイント濃縮／顕微赤外法による表面付着微小異物分析

（株）三菱化学科学技術研究センター・分析部門

XPSによる表面微少領域の化学結合状態マッピング
走査型プローブ顕微鏡（SPM)によるナノ領域の硬さ評価
ToF-SIMSによるハードディスク潤滑膜の解析
ToF-SIMSによるPET解析
AFMを用いた液中における生物試料の形態解析

（株）大阪環境技術センター

XPS(ESCA)による粘着剤剥離面の変色部の解析
顕微FT-IR、SEM-EDXによる欠陥部の解析