製品サービス情報

Home > 製品・サービス情報一覧

結晶構造分析

概要

（粉末、単結晶、薄膜）X線回折、XAFSにより結晶構造解析を行います。

（株）三菱化学アナリテック
（株）三菱化学科学技術研究センター・分析部門
（株）上越テクノセンター・分析
（株）ケイエヌラボアナリシス

（株）三菱化学アナリテック

ELV対応の分析
走査型電子顕微鏡による高分子の構造解析（エッチング法）
透過電顕による高分子の構造解析（オスミウム染色法）
透過電顕による高分子の構造解析（ルテニウム染色法）
X線分析顕微鏡による基盤端子のメッキ厚の解析

（株）三菱化学科学技術研究センター・分析部門

結晶多形スクリーニング
単結晶構造解析
X線回折による多形スクリーニング

（株）上越テクノセンター・分析

無機物の粉末X線構造解析

（株）ケイエヌラボアナリシス

粉末X線回折による定性分析